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- NX2000日立FIB-SEM三束系統(tǒng)
日立FIB-SEM三束系統(tǒng)追求的TEM樣品制備工具 在設備及高性能納米材料的評價和分析領域,F(xiàn)IB-SEM已成為*的工具。 近來,目標觀察物更趨微細化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。
- 型號:NX2000
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- NX9000日立高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)
高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察,采集一系列連續(xù)截面圖像,并重構特定微區(qū)的三維結構。 采用的鏡筒布局,從*材料、*設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內(nèi)實現(xiàn)傳統(tǒng)機型難以企及的高精度三維結構分析。
- 型號:NX9000
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- Ethos NX5000高性能FIB-SEM系統(tǒng)
高性能FIB-SEM系統(tǒng)高性能與高靈活性兼?zhèn)? “Ethos”采用日立高新的核心技術--的高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復合透鏡,不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察,還可以在FIB加工時實現(xiàn)實時觀察。
- 型號:Ethos NX5000
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- HF5000日立球差場發(fā)射透射電子顯微鏡
日立球差場發(fā)射透射電子顯微鏡200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能 通過單極片實現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。 透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動校正功能,像差校正
- 型號:HF5000
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- FlexSEM 1000 II日立掃描電子顯微鏡
日立掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II,憑借全新設計的電子光學系統(tǒng)和高靈敏度檢測器,可在加速電壓20 kV下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面,具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能,可以在短時間內(nèi)進行各種觀察。此外,還搭載了全新的導航功能“SEM MAP”,這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準視野的缺點,實現(xiàn)最直觀的視野移動。
- 型號:FlexSEM 1000 II
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- SU7000超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡
超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質(zhì)圖像,而且還可以同時接收多種信號。此外,它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多性能。 SU7000是一臺實現(xiàn)了信息獲取量的新型掃描電鏡,可以滿足客戶的多種觀察需求。
- 型號:SU7000
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- SU3800日立鎢燈絲掃描電子顯微鏡
日立鎢燈絲掃描電子顯微鏡日立全新一代高分辨鎢燈絲掃描電鏡SU3800采用全新的HexBias偏壓技術,使其低電壓性能大大提升,同時升級的高靈敏度背散射探測器和可變壓力探測器使得SU3800的觀察能力進一步提升。SU3800還增加了IFT燈絲監(jiān)控技術、全新的光鏡導航、集成的能譜以及報告導出等功能,使其操作也變得更為簡單。
- 型號:SU3800
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議