精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)
簡要描述：特點/應用精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等.最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動可放置于手套箱內(nèi)使用 形狀輕巧，操作方便，價格實惠
產(chǎn)品型號：CINDBEST CM-4 |- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時間：2023-06-20
- 訪 問 量：1167
產(chǎn)品詳情
精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)
臺體尺寸
水平旋轉(zhuǎn) | 2英寸*3英寸 |
10微米 | |
可升降mm | |
真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環(huán) | |
左右各一個針座平臺，最多可放置6個探針座 | |
樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極 | |
400mm長*380mm寬*500mm高 | |
約20千克 |
精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)
光學系統(tǒng)：
單筒顯微鏡/體式顯微鏡 |
16X-200X |
水平方向繞立柱360度旋轉(zhuǎn)，Z軸50.8mm |
外置LED無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形光源 |
200萬像素/500萬像素/1200萬像素 |
定位器：
12mm*12mm*12mm |
10微米/2微米/0.7微米/0.5微米 |
磁力吸附/真空吸附 |
同軸線/三軸線 |
10pA/100fA/10fA |
彈簧固定/管狀固定 |
BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子 |
0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米 |
鎢鋼/鈹銅 |
可選附件
顯示器 |
射頻測試配件 |
光學平臺 |
光電測試配件 |
規(guī)格及設計如有更改，恕不另行通知。
掃一掃，關(guān)注微信