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- CGO-2/CGO-4/CGO-6CGO-高低溫真空探針臺
CGO-高低溫真空探針臺 溫度范圍77K-675K(液氮); 可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境; 超高溫度分辨率; 特殊客制低溫系統(tǒng); 具有*穩(wěn)定性
- 型號:CGO-2/CGO-4/CGO-6
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CT-6高低溫探針臺
高低溫探針臺是可用于12英寸以內(nèi)樣品測試 采用密閉腔結(jié)構(gòu),屏蔽外部電信干擾同時保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時無結(jié)霜
- 型號:CT-6
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C高溫探針臺
高溫探針臺可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ; 可滿足500度高溫測試 ; 溫度穩(wěn)定性高 ;兼容IV/CV/RF測試
- 型號:CS-4-HT/CS-6-HT/CH-8-HT/C
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CW-4IGBT高壓大電流測試探針臺
IGBT高壓大電流測試探針臺$nCINDBEST CW-4 | 4“ 高壓大電流探針臺測試系統(tǒng)$n可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ;$n可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
- 型號:CW-4
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CH12綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)
CH-12 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng) 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試; 操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn) ; 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
- 型號:CH12
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CH-8綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)
12“ 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng): 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試; 操作便捷,功能其全,高效精準(zhǔn) ; 可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
- 型號:CH-8
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CL-6精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)
精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng)特點(diǎn) / 應(yīng)用 ◆ 滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等.,◆ 最大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試,同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu),線性移動,兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動,可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用 CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡,可微調(diào)移動 ;可升級做射頻,大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
- 型號:CL-6
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議
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- CS-4小型探針臺
CS-4 | 4“ 精密I-V測試測量探針臺系統(tǒng):可滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等。 小型探針臺特點(diǎn)/應(yīng)用 小型探針臺是一款能滿足I-V/C-V,PIV測試,光電測試等,最大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試,同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu),線性移動 可放置于手套箱內(nèi)使用,形狀輕巧,操作方便,價格實(shí)惠
- 型號:CS-4
- 更新日期:2023-06-20 ¥面議